德國NUMERIK JENA成立于1970年，在測量系統的開發、制造和銷售方面擁有 40 多年的經驗。生產計量學及其制造精密秤的相關技術的根源可以追溯到卡爾蔡司和恩斯特阿貝。秉承這一偉大傳統，所有活動的目標都是我們產品的不斷更新和進一步開發。重點是國際市場的需求，由于我們產品的模塊化特性，我們可以靈活應對。

NUMERIK JENA開發、生產和銷售具有全qiu最gao分辨率和精度的位移、位置和角度檢測測量系統。產品不僅因其特別小的尺寸而令人印象深刻，而且由于其多功能性還可以普遍使用。NUMERIK JENA的 EPIFLEX 傳感器模塊的出色特性使其能夠將它們集成到幾乎所有高科技應用中。

NUMERIK JENA配備了光刻、薄膜技術、結構和連接技術、機械生產和裝配領域的最新生產技術。這些技術使我們能夠縮短交貨時間并具有高度的靈活性。

1970:在 Carl Zeiss Jena 公司成立 NUMERIK 部門，旨在開發和制造用于 NC 控制機床和自動測量設備的定位測量技術

1980:產品范圍不斷擴大。1980 年代末，以下產品組屬于生產范圍：旋轉編碼器、角度測量系統、開放式和封裝式線性測量系統、位置指示器、激光干涉儀、步進電機和滾珠絲杠

1990:專注于旋轉編碼器和線性測量系統

1996:推出基于新開發的 EPIFLEX 微型傳感器以及 SINGLEFLEX 和 DOUBLEFLEX 卷尺的新一代測量系統。在此基礎上，從現在開始可以制造絕對精度高達 +/- 0.1 µm 的極小型測量系統。

1998:成立 NUMERIK JENA GmbH 公司

Numerik Jena光柵尺 LIA20系列將精度和易用性結合在一個設備中。憑借其集成的2場EPIFLEX傳感器模塊，它也適用于更粗糙的應用。使用EPIFLEX傳感器模塊（2場掃描）；可單獨配置；1 Vpp或RS 422輸出信號；比較多100次信號插值；比較小的測量步長為50納米；行走速度可達10 m / s（1 Vpp）；由于2場掃描，對污染的敏感性降低；由于多種安裝可能性，安裝靈活。

Numerik Jena直線光柵 LIA20系列由于插值電路，集成在一個15針D-sub連接器或掃描頭，分辨率降低到50納米，可以沒有任何額外的電子產品；允許的運行速度為正弦信號，輸出達10米/秒；均方輸出的0.1微米的分辨率波信號可為1.6米/秒的允許運行速度。短距離的位置誤差（插值誤差）通過引入振幅的電子補償和偏移粗信號偏差均顯著降低。這種補償功能，在所有速度范圍內可避免錯誤。

Numerik Jena直線光柵 LIA20-N501WA兼容光柵尺MV53 40NP。

詳細參數

掃描頭尺寸：34*13.2*12.4mm

掃描頭重量：≤20g

掃描頻率：比較大500kHz

電源電壓：5 V±10％

輸出接口

電壓輸出：1 VPP（15針D-Sub）

方波輸出：RS422，插值可達100次（15針D-Sub）

電纜：

允許彎曲半徑：

偶爾彎曲~8毫米

恒定彎曲~40毫米

Numerik Jena主要型號：LIK21、LIS73-1、LIS73-3、KITL2、KITL4、LIK2D、RIK、ULTHEMIUS、KIT-R、LINK-R、RS 192/160/24000、RIK4-2C 192/24000 N4-WZ、MV53 40NP、LIA20-N501 WA

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